Mitutoyo - Полный каталог инструмента - 2014-2015 Русский язык
для размещения заказа - mitutoyo@mitutoyo-tools.ru
Измерение с высоким разрешением Комбинированные координаты точки
Если увеличить... Система координат машины Система координат изображения
M
Шкала яркости Mz Vx
Шкала яркости My
V
Vy
Положение инструмента Положение инструмента Mx
Позиция распознания системы может быть определена с Положение стола Положение кромки (от
погрешностью, шириной до 1 пикселя при нормальной измерительного устройства центра изображения)
обработке изображения. Это можно предотвратить, M = (Mx, My, Mz)
выполненив измерение с высоким разрешением. V = (Vx, Vy)
Для повышения точности при определении границ используется Фактические координаты заданы X = (Mx + Vx), Y = (My +
субпиксельная обработка изображений. Vy), и Z = Mz, соответственно.
Границы определяются путем установления кривой интерполяции
от смежных данных элемента изображения, как показано ниже. Так как измерение производится с сохранением отдельных
В результате это позволяет сделать измерение с разрешением измеренных позиций, система может измерять без проблем
более 1 пикселя. размеры, которые не могут быть выведены на один экран.
Шкала яркости Принцип автофокусировки
Шкала яркости
Положение инструмента Таким образом, профиль сигнала Система может осуществлять измерение плоскости XY, но не
изображения приближается к может выполнять измерение высоты с использованием только
Сигнал изображения аналоговой форме волны изображения камеры CCD. Система обычно оснащена механизмом
без субпиксельной автофокусировки (AF) для проведения измерения высоты.
обработки Положение инструмента Следующее объясняет механизм AF, который использует простое
изображение, однако некоторые системы могут использовать
лазерную автофокусировку.
Сигнал изображения при субпиксельной обработке Система AF анализирует изображение Z
при перемещении камеры с зарядовой координата
связью вверх и вниз по оси Z. При CCD
анализе контрастности изображения, Высота
Измерение изображения по частям изображение с четким фокусом будет в фокусе
иметь максимальную контрастность,
Крупные элементы, которые не может вместить один экран, а несфокусированное изображение Контраст
измеряются путем точного управления позицией CCD будет иметь малую контрастность.
датчика и устанавливаются таким образом, чтобы установить Таким образом, высота, при
местонахождение каждой точки привязки в рамках отдельных которой контрастность изображения
изображений. Посредством этого система может измерить даже максимальна – высота в фокусе.
крупный круг, как показано ниже, путем определения границы
при передвижении столика микроскопа через различные части Вариации контраста в зависимости от условия
периферии. фокусировки
Контраст границ низкий Контраст границ высокий
из-за плохой фокусировки. из-за хорошей фокусировки.
Высокий Высокий
Низкий Низкий
Контраст в направлении сканирования Контраст в направлении сканирования
Все продукты предназначены для продажи коммерческим клиентам. Иллюстрации продуктов без каких-либо обязательств. Описания 637
продукции, в частности технические спецификации, соответствуют действительным только при предварительном подтверждении.
mitutoyo@mitutoyo-tools.ru
www.mitutoyo-tools.ru