Mitutoyo - Полный каталог инструмента - 2015-2017 Русский язык
для размещения заказа - mitutoyo@mitutoyo-tools.ru
Измерение с высоким разрешением Комбинированные координаты точки
Если увеличить... Система координат машины Система координат изображения
. Vx
Vy
Положение инструмента .Т_ п_ -П1 о^ложение инструмента
п= Положение стола Положение кромки (от
Позиция распознания системы может быть определена с измерительного устройства центра изображения)
М = (Мх, Му, Mz)
погрешностью, шириной до 1 пикселя при нормальной V = (Vx, Vy)
обработке изображения. Это можно предотвратить,
выполнение измерение с высоким разрешением.
Для повышения точности при определении границ используется Ф акти чески е координаты заданы X = (М х + Vx), Y = (М у +
субпиксельная обработка изображений. Vy), и Z = M z, соответственно.
Границы определяются путем установления кривой интерполяции
от смежных данных элемента изображения, как показано ниже. Так как измерение производится с сохранением отдельных
В результате это позволяет сделать измерение с разрешением измеренных позиций, система может измерять без проблем
более 1 пикселя. размеры, которые не могут быть выведены на один экран.
Положение инструмента Таким образом, профиль сигнала Принцип автофокусировки
изображения приближается к
I *-!..> аналоговой форме волны Система может осуществлять измерение плоскости XY, но не
Сигнал изображения может выполнять измерение высоты с использованием только
без субпиксельной Положение инструмента изображения камеры CCD. Система обычно оснащена механизмом
обработки автофокусировки (AF) для проведения измерения высоты.
Следующее объясняет механизм AF, который использует простое
Сигнал изображения при субпиксельной обработке изображение, однако некоторые системы могут использовать
лазерную автофокусировку.
Измерение изображения по частям
Система AF анализирует изображение
Крупные элементы, которые не может вместить один экран, при перемещении камеры с зарядовой
измеряются путем точного управления позицией CCD связью вверх и вниз по оси Z. При
датчика и устанавливаются таким образом, чтобы установить анализе контрастности изображения,
местонахождение каждой точки привязки в рамках отдельных изображение с четким фокусом будет
изображений. Посредством этого система может измерить даже иметь максимальную контрастность,
крупный круг, как показано ниже, путем определения границы а несфокусированное изображение
при передвижении столика микроскопа через различные части будет иметь малую контрастность.
периферии. Таким образом, высота, при
которой контрастность изображения
максимальна - высота в фокусе.
Вариации контраста в зависимости от условия
ф окусировки
Контраст границ низкий Контраст границ высокий
из-за плохой фокусировки. из-за хорошей фокусировки.
Высокий
Низкий! ----------
Контраст в направлении сканирования Контраст в направлении сканирования
Все продухты предназначены для продажи юридическим лицам, Иллюстрации продуктов приведены без обязательств. Описания продуктов, в 643 M itutoyo
частности технические характеристики, соответствуют действительности только при предварительном подтверждении.
mitutoyo@mitutoyo-tools.ru
www.mitutoyo-tools.ru